제품안내

CETOL 6σ

CETOL 6σ 제품문의

CETOL 6σ는 공차 관리 개념을 기반으로 한 "3차원 공차 관리 도구"입니다.
3차원 CAD데이터에 제조 정보를 입력하면 아래와 같은 문제들에 대해 명확하고 신속하게 설계 개선 방안을 얻을 수 있습니다.


  • 성능에 영향이 가장 큰 공차 및 치수항목
  • 성능구현과 제조비용을 고려한 최적의 공차 수준
  • 공차, 치수 변경을 통해 불량을 줄일 수 있는 방법

설계부터 양산 이후까지 제조의 모든 과정에서 활용

  • 공차 분석을 수행하면 제조의 모든 과정에서 "성능", "조립성", "비용"을 모두 고려한 최적화를 할 수 있으며, 공차 분석 데이터를 바탕으로 공차 수정에 대한 명확한 결정을 내릴 수 있습니다. 대부분의 실무현장에서는 설계 단계에서 공차를 설정하고 양산 개시 후 또는 원가 절감 문제 발생 등과 같은 시점에 재검토 하는 과정을 거쳤습니다. CETOL 6σ을 사용하면 설계 초기 단계부터 양산시 각 부품의 조립 불균형 상태를 미리 검토할 수 있는 분석환경을 제공합니다.

공차분석의 필요성

  • 대부분의 회사는 제품의 완성도를 높이기 위해 설계공차의 정의와 가공공정의 변수들을 어떻게 조절하는 것이 좋은지에 대해 명확히 이해할 수 있기를 원합니다.
  • 대부분의 회사는 제품 개발에 있어서 정확한 공차분석을 어렵다고 느끼기 때문에 개발단계 자체가 제한됩니다.
  • 대부분의 회사는 현재 도입하여 사용 중인 CAD system을 그대로 유지하면서 더 향상된 분석 과정을 원합니다.
  • 공차를 분석하는 사용자들의 시각에서 쉽게 접근할 수 있을까?
R&D Engineer시제품 모델의 조립이 올바르게 진행 되어질까?
Product Design EngineerWorst-Case 조건에 대해서도 하위 조립품까지 조립에 문제가 있을까?
Manufacturing Engineer제품의 제작과 조립공정을 얼마나 더 낮은 비용으로까지 개선할 수 있을까?
Quality Engineer천 개의 제품을 생산했을 때 몇 개나 문제를 발생시킬까? 또는 제품의 성능과 요구사항을 얼마나 충족시킬까?

위와 같은 이유로 대부분의 회사는 더 좋은 공차 최적화 도구와 분석과정의 도입을 필요로 합니다.

CETOL 6σ의 특징

  • CETOL 6σ에서만 보유하고 있는 시스템 모멘트법은 제품 성능에 대한 치수 변화의 영향을 "치수 기여도"로 계산할 수 있습니다.
    시스템 모멘트법은 몬테카를로법과 달리 모델의 관계를 함수로 정의합니다. 분석의 입력 정보가 될 치수는 함수의 변수로 취급되므로 분석 결과에 대한 치수와 공차 등의 입력 정보를 변경하면 즉시 결과가 업데이트 됩니다. 몬테카를로법과는 다르게 설계 조건을 변경할 때마다 많은 시간을 들여 분석을 다시 수행해야 하는 시간 손실이 없습니다.
  • 시스템 모멘트법

    • 3차원 공차 분석을 목적으로 개발된 분석기술
    • 결과는 오차 곡선 자체이며 정밀도의 편차는 없음
    • 샘플링이 필요하지 않기 때문에 연산이 빠르고 설정 변경시 즉시 결과를 산출
  • 몬테카를로법

    • 난수를 바탕으로 샘플을 무작위로 추출하고 불균형을 평가하는 일반적인 방법
    • 결과가 샘플링의 최대, 최소값에 좌우되기 쉬움
    • 경향은 파악할 수 있지만 정확성은 샘플링 수에 따라 좌우됨

3차원 CAD 작업 연장에서 공차 분석

CETOL 6σ는 3차원 CAD 환경에서 사용할 수 있습니다.

  • 설계업무에서 만들어진 3차원 CAD 데이터를 직접 이용
  • CAD 작업 연장선에서 공차 분석을 위한 공차 정보와 어셈블리 순서를 정의

    -설계자가 스스로 공차 분석에 임할 수 있는 환경을 제공

  • 치수/기하 공차 등 설계정보의 입력은 CETOL 6σ에서 독립적으로 정의

    -크기의 기준이나 지침 방법을 변경하는 등 실제 제조를 고려한 분석을 수행할 수 있음

  • Parasolid 및 STEP 등 호환성 파일 형식을 사용하여 분석을 수행할 수 있음
  • CETOL 6σ For CREO

  • CETOL 6σ For CATIA V5

  • CETOL 6σ For SolidWorks

  • CETOL 6σ For NX

CETOL 6σ의 기능

  • CETOL 6σ는 설계 생산 현장에서 치수 공차로 인해 발생하는 다양한 문제를 충실히 재현하고 해결책 검토를 신속히 수행하기 위한 다양한 기능을 제공하고 있습니다.

현실의 상태를 반영할 수 있는 설정 기능

조립 상태에 대해 유연하고 현실적인 정의가 가능합니다.

Joint의 조립 상태 정의

Joint를 독자적으로 정의하기 때문에 CAD 데이터의 어셈블리 구속조건에 의존하지 않고 자유로운 조립 방법과 조립 순서를 검토할 수 있습니다.

Joint 정의

자유도의 변경을 GUI에서 간단히 변경할 수 있음

구속 부족 확인

자유도(DOF)의 구속 부족을 목록에서 확인할 수 있음

계산이 어려운 조립 상태를 고려

실제 제품은 구멍, 핀 체결 등의 경우, 조립 시 하중과 중력에 의한 편향이 발생합니다. CETOL 6σ는 편향을 고려한 공차 분석을 할 수 있습니다.

편향 조건 설정

"부품 위치 보기" 기능은 CAD 환경에서 상태 확인

현실의 상태를 반영할 수 있는 설정 기능

기구를 포함하는 어셈블리는 그 움직임에 따라 각 부품의 접촉 위치가 다릅니다.
접촉하는 부분이 다르면 불균형에 의한 영향도 당연히 변화하기 때문에 각각의 자세에 대해 분석할 필요가 있습니다.

Configuration 설정

Configuration 설정에 따라 밸브의 Open/Close와 같은 다양한 움직임을 정의할 수 있음

Sophisticated 2D Transmission Line Solver

시각적으로 이해하고 설계 개선 방안을 빠르게 도출할 수 있는 기능을 제공하고 있습니다.

결과 평가 개선 방안의 검토를 위한 Analyzer

  • 후처리 전용 도구인 Analyzer를 사용
  • Analyzer에서 공차 및 치수 변경 후 결과를 즉시 다시 계산해 볼 수 있음
  • 설계자와 생산 기술자 각각의 견해를 확인하고 쌍방의 이해에 따라 공차 설정을 조율하기 위한 도구로 유용

품질 개선 검토

  • 품질 개선을 고려할 때 조립 편차가 요구 품질의 평균에서 벗어나 있는 경우, 공차만 개선하는 것은 제조비용 상승에 직결
  • 공차를 검토하기 전에 "치수 기여도"를 검토하여 낮은 비용으로 개선 방안을 찾을 수 있음
  • 치수기여도

    중요 관리 치수 검토

  • 공차 기여도

    성능 품질에 대한 기여도 검토

  • 치수의 재검토

    치수 기여도로부터 낮은 비용으로 품질을 개선하는 방안 검토

  • 공차의 재검토

    공차 기여도로부터 품질 불균형에 대한 개선방안을 검토

시각화에 의한 결과 분석 및 이해

  • 품질에 영향을 미치는 치수 공차에 대한 시각화 기능을 통해 형상 변화를 쉽게 이해할 수 있음
  • 시각적 확인은 치수 측정의 상관관계를 빠르게 이해하도록 도와줌
  • 공차 기여도

    단독 치수의 편차에 대한 어셈블리 품질의 변화를 애니메이션으로 표시

자동 보고서 생성 기능

  • 간단한 조작으로 작성할 수 있음
  • 포함할 내용을 직접 정의할 수 있음
  • 업무에 적합한 양식으로 수정 가능

공차 분석 데이터의 운영

3차원 CAD 사용에 맞는 공차 분석 데이터의 운영이 가능합니다.

공차 분석 데이터 템플릿

공차 분석 정보만 외부 데이터로 저장 가능

데이터를 템플릿으로 구성해 놓으면 기본 구조가 유사한 제품의 데이터를 가져올뿐만 아니라 과거 설정이 반영됨

CAD 데이터에 공차 분석 데이터를 추가

  • CETOL 6σ에서 설정된 정보는 모두 3차원 CAD 데이터에 추가됨
  • 부품 정보는 부품 데이터에, 조립에 대한 정보는 어셈블리 데이터에 저장
  • 조립 검증시 필요한 최소한의 조작으로 공차 분석 결과를 얻을 수 있음
  • CAD 데이터에 공차 분석의 모든 정보가 추가 되므로 CAD 데이터 및 공차 분석 정보를 개별적으로 관리할 필요가 없고 설계 정보의 관리가 쉬움

주요고객

  • ABB, Audi, BAE Systems, Bosch, Caterpillar, Chrysler, Ericsson, Fujitsu, General Electric, Goodrich, Hitachi, Honeywell, Motorola, Northrop Grumman Panasonic, Rolex, Roche, Toyota, TVS Motors, Tyco Electronics, U.S. Army, Volvo, Whirlpool, Xerox 등

입력하신 정보와 일치하는 정보입니다.

admin123

비밀번호찾기 확인

비밀번호를 입력해주세요.

취소

탈퇴되었습니다. 감사합니다.

확인

배송지목록

배송지명기본 배송지이름핸드폰번호주소관리
이원구010-1111-1234

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

선택 삭제
이원구010-1111-1234

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

선택 삭제
이원구010-1111-1234

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

선택 삭제
이원구010-1111-1234

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

서울시 강남구 강남대로 120, 111 (역삼동, 유니온센터빌딩)

선택 삭제
취소
1 2 3 4 5 6 7 8 9 10

신청을 취소하시겠습니까?

확인 취소

교육상세내용
Workbench Mechanical DesignModeler

SI/PI/EMI 기초 교육

본 교육은 ANSYS SIwave와 HFSS를 이용한 SI/PI/EMI 해석 기초이론 교육입니다. 특히 전기전자 분야를 전공하지 않은 비전공자를 대상으로 전기전자 및 일반 산업 기기 전반에 걸쳐 주요관심사로 대두되고 있는 SI/PI/EMI에 대하여  쉽게 이해하고 접근할 수 있도록 구성하였습니다.
주요 내용으로 전자기학 기초, 전자부품 기초 및 SI/PI/EMI 기초로 구성 되어 있습니다. 본 과정을 수료함으로써 현업에서의 SI/PI/EMI에 대한 이해에 도움이 될 것입니다.

#일시: 2016년 9월 27일(화) 10:00~17:00
#강사: 태성에스엔이 김지원 부장 / 
#교육비: 무상

10:00~11:30 : 전기전자 기초 교육
- SI/PI/EMI 이해를 돕기 위한 기초 이론 교육
- 전자기학 기초
- 전자부품 기초

11:40~13:00 : SI/PI 기초 이론
- Signal Integrity 기초
- Power Integrity 기초 
13:00~14:00 : 점심 식사
14:00~15:30 : EMI 기초 이론
- EMI/EMC 기초 이론 교육
- EMI/EMC 적용 사례 분석

15:40~17:00 : ANSYS SI/PI/EMI 해석 Solution Q&A

본 교육은 ANSYS SIwave와 HFSS를 이용한 SI/PI/EMI 해석 기초이론 교육입니다. 특히 전기전자 분야를 전공하지 않은 비전공자를 대상으로 전기전자 및 일반 산업 기기 전반에 걸쳐 주요관심사로 대두되고 있는 SI/PI/EMI에 대하여  쉽게 이해하고 접근할 수 있도록 구성하였습니다.
주요 내용으로 전자기학 기초, 전자부품 기초 및 SI/PI/EMI 기초로 구성 되어 있습니다. 본 과정을 수료함으로써 현업에서의 SI/PI/EMI에 대한 이해에 도움이 될 것입니다.

#일시: 2016년 9월 27일(화) 10:00~17:00
#강사: 태성에스엔이 김지원 부장 / 
#교육비: 무상

10:00~11:30 : 전기전자 기초 교육
- SI/PI/EMI 이해를 돕기 위한 기초 이론 교육
- 전자기학 기초
- 전자부품 기초

11:40~13:00 : SI/PI 기초 이론
- Signal Integrity 기초
- Power Integrity 기초 
13:00~14:00 : 점심 식사
14:00~15:30 : EMI 기초 이론
- EMI/EMC 기초 이론 교육
- EMI/EMC 적용 사례 분석

15:40~17:00 : ANSYS SI/PI/EMI 해석 Solution Q&A

본 교육은 ANSYS SIwave와 HFSS를 이용한 SI/PI/EMI 해석 기초이론 교육입니다. 특히 전기전자 분야를 전공하지 않은 비전공자를 대상으로 전기전자 및 일반 산업 기기 전반에 걸쳐 주요관심사로 대두되고 있는 SI/PI/EMI에 대하여  쉽게 이해하고 접근할 수 있도록 구성하였습니다.
주요 내용으로 전자기학 기초, 전자부품 기초 및 SI/PI/EMI 기초로 구성 되어 있습니다. 본 과정을 수료함으로써 현업에서의 SI/PI/EMI에 대한 이해에 도움이 될 것입니다.

#일시: 2016년 9월 27일(화) 10:00~17:00
#강사: 태성에스엔이 김지원 부장 / 
#교육비: 무상

10:00~11:30 : 전기전자 기초 교육
- SI/PI/EMI 이해를 돕기 위한 기초 이론 교육
- 전자기학 기초
- 전자부품 기초

11:40~13:00 : SI/PI 기초 이론
- Signal Integrity 기초
- Power Integrity 기초 
13:00~14:00 : 점심 식사
14:00~15:30 : EMI 기초 이론
- EMI/EMC 기초 이론 교육
- EMI/EMC 적용 사례 분석

15:40~17:00 : ANSYS SI/PI/EMI 해석 Solution Q&A